«La Metrología ha cambiado y va a cambiar mucho más» Toni Ventura
Toni Ventura, fundador y director general de Datapixel en España además de miembro del Comité Ejecutivo de la European Machine Vision Association (EMVA), así como de varios comités internacionales de estándares, abrió la 14ª edición de la Conferencia Internacional de Metrología Industria, Metromeet con una ponencia estelar “Fabricación de Cero Defectos”. La competitividad de las […]