Innovalia Metrology ha presentado sus últimos desarrollos en Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, celebrada en Bilbao los días 27 y 28 de marzo. El stand de Innovalia Metrology contó con una gran afluencia de visitantes, muy interesados en M3 portable, el nuevo sistema portátil de escaneado de alta precisión, equipado con la plataforma M3 (Multisensor Massive Measurement), que permite optimizar la gestión de los procesos de medición de manera natural y eficiente.
