Innovalia Metrology presentará sus desarrollos más recientes y novedades el Hall 5 Stand 5120 de la Feria Control, celebrada en Stuttgart del 5 al 8 de mayo. Durante estos cuatro días, los visitantes podrán conocer el sistema portátil de escaneado de alta precisión M3 portable, equipado con la plataforma M3 (Multisensor Massive Measurement), que permite optimizar la gestión de los procesos de medición de manera natural y eficiente, y con el sensor óptico Optiscan, cuyo diseño exclusivo permite la integración en cualquier tipo de sistema, tanto para laboratorio como en sistemas de fabricación en línea.